CT3質構儀源于數十年成功的物性研究經驗，并得益于廣大用戶質構應用案例的鼎力反饋支持，是目前性價比高的質構分析專業儀器。擁有7種測試模式和眾多的測試夾具可供選擇的CT3質構儀，是至今為止單機操作中功能全的質構儀。

CTX質構分析儀是AMETEKBrookfield用于材料壓縮/拉伸測試的新一代先進機型。對于需要保證質量的同時又提高生產率的繁忙實驗室，它將為快速、有效測試帶來一個令人興奮的新次元。 CTX有各種各樣的探頭、夾具，用于檢測各種包裝材料、食品、化妝品、藥品和機械設備。METEKBrookfield還可以為大多數應用個性化定制設計夾具和探頭。

碳硫分析儀rapid CS cube是專為煤、焦炭或生物質中的碳硫快速自動分析而設計的。其出色的靈敏度（煤中的S低檢測限（LOD）可低至2ppm）使得它成為這一應用中所有樣品分析的通用工具。采用錫紙包裹樣品避免分析儀內部灰塵和污染物的進入。

高溫裂解有機元素分析儀完美的滿足您對高溫EA-IRMS分析的需求。輔以零空白的裂解反應器和柱吹掃技術，使您在分析過程中無需擔心干擾氣體對分析結果的影響。vario PYRO cube和源自Isoprime的先進的穩定同位素質譜儀聯用，確保用戶獲得OH和CNS的高精度和高準確度結果，享受極為簡單流暢的分析過程。

準確成像, 無交叉耦合現象 業界*的XYZ軸線性度，樣品和探針分別由獨立的柔性制導掃描器控制移動 Z低的平面偏移度，全程水平掃描時平面偏移量不超過1納米 垂直掃描器全程伸縮時，線性度優于0.015% 優化的水平掃描器ringing現象, 科學的正向sine-scan算法 原子力顯微鏡

- 原子力顯微鏡（AFM）有納米級分辨率成像以及電，磁，熱和機器性能測量的能力。 - 納米管掃描系統可用于高分辨率掃描離子電導顯微鏡（SICM）。 - 倒置光學顯微鏡（IOM）便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。

在同級產品中，Park XE7能夠帶來Z高納米級分辨率的測量效果。得益于*的原子力顯微鏡架構，即獨立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠實現平滑、正交且線性的掃描測量，從而精確成像和測量樣品的特征。此外，Park所*的True Non-Contact™模式還能為您帶來*的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。